Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wyb. Wyspiańskiego 27
50-370 Wrocław
NIP 896-000-58-51
budynek A-1, pok. 234
tel. 71 320 45 53 (sekretariat)
fax. 71 328 36 96
wppt.sekretariat@pwr.edu.pl
dr inż. Grzegorz Zatryb
Email: grzegorz.zatryb@pwr.edu.pl
Jednostka: Wydział Podstawowych Problemów Techniki » Katedra Fizyki Doświadczalnej
Wybrzeże Wyspiańskiego 27, Wrocław
bud. A-1, pok. 18/4
tel. 71 320 3090
Konsultacje:
https://wppt.pwr.edu.pl/studenci/konsultacje
Zainteresowania naukowe
- Koloidalne półprzewodnikowe kropki kwantowe, zjawiska relaksacji stanów wzbudzonych w układach nieuporządkowanych, lokalizacja przestrzenna fononów optycznych i akustycznych w strukturach niskowymiarowych, spektroskopia rozpraszania Ramana, spektroskopia rozdzielona w czasie.
Najważniejsze publikacje z ostatnich lat
2024
- Zatryb G., Adamski A., Chrzanowski M., Żak M. A., Podhorodecki A., The influence of solvent refractive index on the
photoluminescence decay of thick-shell gradient-alloyed colloidal quantum dots investigated in a wide range of
delay times, Luminescence 39, e4759 (2024).
2020
- Zatryb G., Klak M.M., On the choice of proper average lifetime formula for an ensemble of emitters showing non-single exponential photoluminescence decay, Journal of Physics: Condensed Matter 32, 415902 (2020).
2015
- Zatryb G., Klak M.M., Wojcik J., Misiewicz J., Mascher P., Podhorodecki A., Effect of hydrogen passivation on the photoluminescence of Tb ions in silicon rich silicon oxide films, Journal of Applied Physics 118, 243104 (2015).
- Zatryb G., Wilson P.R.J., Wojcik J., Misiewicz J., Mascher P., Podhorodecki A., Raman scattering from confined acoustic phonons of silicon nanocrystals in silicon oxide matrix, Physical Review B 91, 235444 (2015).
2014
- Zatryb G., Misiewicz J., Wilson P.R.J., Wojcik J., Mascher P., Podhorodecki A., Stress transition from compressive to tensile for silicon nanocrystals embedded in amorphous silica matrix, Thin Solid Films 571 (2014) 18-22.
2013
- Zatryb G., Podhorodecki A., Misiewicz J., Cardin J., Gourbilleau F., Correlation between matrix structural order and compressive stress exerted on silicon nanocrystals embedded in silicon-rich silicon oxide, Nanoscale Research Letters 8, 40 (2013).
2011
- Zatryb G., Podhorodecki A., Hao X.J., Misiewicz J., Shen Y.S., Green M.A., Correlation between stress and carrier nonradiative recombination for silicon nanocrystals in an oxide matrix, Nanotechnology 22 (2011) 335703.